溫濕度環(huán)境測(cè)試

日期： 2019-10-23

測(cè)試簡(jiǎn)介

溫濕度環(huán)境試驗(yàn)主要應(yīng)用于考核電工電子產(chǎn)品、元件、材料等在恒定濕熱、溫度循環(huán)變化等條件下，成品或部件的使用及貯存適應(yīng)性，是產(chǎn)品中應(yīng)用最為廣泛的人工加速模擬試驗(yàn)類型。

測(cè)試名稱

主要包括低溫測(cè)試、高溫測(cè)試、恒溫恒濕測(cè)試、交變濕熱、溫度循環(huán)測(cè)試、快速溫變測(cè)試等。

應(yīng)用范圍

廣泛用于電子電氣、車輛、醫(yī)療、儀器儀表、石油化工等領(lǐng)域，整機(jī)、元器件、包裝、材料等。

測(cè)試能力

總溫度范圍：-70℃~+200℃

總濕度范圍：10%RH~98%RH

普通溫變箱升降溫速率：1~2℃/min

快速溫變箱升降溫速率：1~25℃/min

設(shè)備容積范圍：0.4 m3~21m

待測(cè)產(chǎn)品類別/樣品數(shù)量

需確認(rèn)樣品尺寸大小、樣品數(shù)量、周期或時(shí)間、是否帶電測(cè)試、測(cè)試前后功能檢查等。

測(cè)試周期

普通測(cè)試周期：測(cè)試時(shí)間+2WD

常用標(biāo)準(zhǔn)

項(xiàng)目名稱	檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)（方法）名稱及編號(hào)
低溫試驗(yàn)	GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1-2007	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
高溫試驗(yàn)	GB/T 2423.2-2008 IEC 60068-2-2-2007	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
恒定濕熱試驗(yàn)	GB/T 2423.3-2016 IEC 60068-2-78-2012	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
交變濕熱試驗(yàn)	GB/T 2423.4-2008 IEC 60068-2-30-2005	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱(12+12小時(shí)循環(huán))
溫度變化	GB/T2423.22-2012 IEC 60068-2-14-2009	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化